載流子擴散長度測量系統采用的SSPG技術可用于測量納米~微米范圍的載流子擴散長度LD，有機薄膜材料（Bulk-Hetero-Junction有機材料和鈣鈦礦材料）的測量已由LGEP成功驗證，同時被驗證的包括硅基薄膜材料（例如：非晶硅、微晶硅和多晶硅）。